COXEM EM-40 là dòng kính hiển vi điện tử quét (SEM) để bàn nhỏ gọn, hiệu suất cao, được thiết kế tối ưu cho phòng thí nghiệm nghiên cứu, trường đại học và doanh nghiệp kiểm tra vật liệu. Thiết bị nổi bật với khả năng tự động lấy nét trong 3 giây, phần mềm điều khiển trực quan NanoStation5, cùng hệ thống chân không linh hoạt giúp quan sát mẫu nhanh, chính xác và dễ sử dụng.
Điểm nổi bật của COXEM EM-40
- Auto Focus – thao tác đơn giản, tiết kiệm thời gian
- Giao diện phần mềm NanoStation5 hoàn toàn mới, trực quan và thân thiện
- Tốc độ hiển thị lên đến 13 fps
- Bàn mẫu motorized X-Y-Z điều khiển tự động
- Variable Pressure 10 / 20 / 30 Pa
- Hỗ trợ EBSD compact & EDS
- Phân tích hạt nhanh
- Tích hợp SE + BSE imaging
- Thiết kế nhỏ gọn – để bàn – dễ lắp đặt
Thông số kỹ thuật chính
| Thông số | Giá trị |
| Súng điện tử | Tungsten Filament (W) |
| Độ phân giải | < 5 nm (30kV, SE) |
| Độ phóng đại | x20 – x250,000 |
| Điện áp gia tốc | 1 – 30 kV |
| Detector | SE (BSE, EDS, EBSD, STEM – option) |
| Bàn mẫu | X: 40mm / Y: 40mm / Z: 5–40mm |
| Image Shift | ±25 µm |
| Hệ chân không | Turbo Pump + Rotary Pump |
| Kích thước | 315 × 560 × 580 mm |
| Khối lượng | ~81.5 kg |
| Nguồn điện | 110/220V – 1.5 kVA |
| Định dạng ảnh | JPG, TIFF, BMP, PNG |
| Phần mềm |
| Tự động bão hòa sợi đốt |
| Tự động lấy nét |
| Tự động điều chỉnh tương phản/độ sáng trong vài giây |
| Điều hướng kép (Camera CCD + Bản đồ thu nhỏ) |
| Ghép ảnh toàn cảnh Panorama phiên bản 2.0 |
| Đo biên dạng đường (đo mặt cắt đường) |
| Ghép ảnh SE và BSE |
| Chia đôi ảnh SE và BSE |
| Chức năng lưu trữ / quản lý dữ liệu hình ảnh |
Ứng dụng tiêu biểu
- Vật Liệu & Công Nghiệp
- Điện Tử – Bán Dẫn
- Sinh Học – Y Sinh – Thực Phẩm
- Giáo Dục & Nghiên Cứu Nano
Ưu điểm của EM 40 so với SEM truyền thống
- Kích thước nhỏ gọn – không cần phòng SEM riêng lớn
- Chi phí đầu tư & vận hành thấp
- Dễ sử dụng
- Cài đặt nhanh
- Linh hoạt nhiều loại mẫu
