Hệ thống QUANTAX ED-XS cung cấp khả năng EBSD và EDS tiên tiến trong một giải pháp nhỏ gọn, giúp nâng cao hiệu suất phân tích của các kính hiển vi điện tử quét để bàn (tabletop SEM).

Sự tích hợp này cho phép thực hiện phân tích vật liệu toàn diện với độ chính xác và hiệu quả cao, mang đến các công cụ phân tích mạnh mẽ trong một thiết kế nhỏ gọn.

Lợi ích nổi bật

• Phân tích kích thước và hình dạng hạt bán tự động
• Phân tích định lượng vi cấu trúc bằng phương pháp subsetting
• Xác định tỷ lệ diện tích/thể tích của hạt biến dạng so với hạt tái kết tinh
• Phân tích ranh giới hạt
• Nhận dạng pha và phân tích phân bố pha
• Tương quan giữa thành phần hóa học và cấu trúc tinh thể
• Phân tích phân bố định hướng – kết cấu tinh thể

Detector EBSD: Phần cứng e-Flash XS

• Độ phân giải ảnh gốc: 720 × 540 pixels
• Các chế độ binning hỗ trợ: 2×2, 3×3, 4×4, 5×5, 6×6
• Tốc độ thu nhận: 525 khung hình/giây (fps) ở tất cả các chế độ binning
• Đầu detector có thể tháo rời bởi người dùng – cơ chế trượt vào/ra
• Màn phosphor có thể thay thế bởi người dùng